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楼主: admin
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[教学] 高古玉高科技测年代

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171#
发表于 2007-3-12 11:27:00 | 只看该作者
以下是引用蓬莱九仙在2007-3-12 10:38:09的发言:

他们就会失去头上的所谓红山专家的称号,从而丢掉一些个人利益.

[em17][em17][em17]
172#
发表于 2007-3-16 10:50:00 | 只看该作者

探索發現,永無止境.

173#
发表于 2007-3-22 14:22:00 | 只看该作者


图片点击可在新窗口打开查看此主题相关图片如下:
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取自仿制大环壁

90倍器物表面现代工具仿原始打磨痕迹图

特点:痕迹直硬,且粗细均匀,与玉表层接触深度一致。


[此贴子已经被k123于2007-3-23 1:11:42编辑过]
174#
发表于 2007-3-22 14:23:00 | 只看该作者


图片点击可在新窗口打开查看此主题相关图片如下:
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取自馆藏品

120倍表面原打磨工艺痕迹。

特点:非直线痕迹,可见沙粒在器物表层滚动的轨迹(在器表呈现点状连接痕);有时粗有时细(原因滚动受力不匀而成)。

175#
发表于 2007-3-22 17:28:00 | 只看该作者

期待.感谢.这是在做拯救古文明之大事.一些专家不研究,不深入调查,宁可错判一千,不担一个责任,比造假还可恶,因为他会毁了这些不能再生的,先人留给我们的灿斓文化.

176#
发表于 2007-3-22 17:49:00 | 只看该作者

宁可错判一千,不担一个责任[em01]

那些所谓的专家都是混饭吃的.

[em05]
177#
发表于 2007-4-2 16:24:00 | 只看该作者
以下是引用rn在2007-3-22 14:23:26的发言:


图片点击可在新窗口打开查看此主题相关图片如下:
图片点击可在新窗口打开查看

取自馆藏品

120倍表面原打磨工艺痕迹。

特点:非直线痕迹,可见沙粒在器物表层滚动的轨迹(在器表呈现点状连接痕);有时粗有时细(原因滚动受力不匀而成)。

[em27]向任老师敬茶.
178#
发表于 2007-4-3 20:32:00 | 只看该作者
先生用的是C14同位素测定吗?如果附着物没有去除干净,那么就可以测定吧?
k123 该用户已被删除
179#
发表于 2007-4-3 20:40:00 | 只看该作者
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
180#
发表于 2007-4-3 20:49:00 | 只看该作者

用哪一种检测方法呢?我可以去高校实验室找找.

古玉上的钙化物不可以协助测定吗?

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